数字与可编程器件

同时观察参数、功能和系统状态

数字器件的TID响应可能表现为静态电流变化、时序裕量下降、接口异常、配置错误或功能失效，需要测试链路与运行脚本协同设计。

对象与指标

数字器件测试不能只看一个电参数

参数、功能、接口和错误行为需要与剂量、偏置、时序和运行状态同步记录。

配置保持、逻辑功能、接口、时钟、功耗和运行错误行为。

核心功能、模拟/数字接口、电源域、时序和系统级运行状态。

在明确模块边界和供电条件后，评价输出、通信、告警和关键功能。

能力与结论边界：复杂芯片和模块的功能覆盖范围、测试脚本、夹具、仪器和数据接口需由客户与执行方共同确认。

工作路径

功能测试脚本、采样频率和错误判据应在辐照前完成确认和基线验证。

选择能够代表应用风险的功能、接口和运行状态，避免无边界的全功能测试。

确认脚本、固件、供电、温度、接口和数据记录在无辐照条件下稳定。

在双方确认的偏置和时间条件下执行测量或功能检查，并记录异常。

累积功能退化不能替代对单粒子翻转、闩锁或位移损伤的独立验证。

预约测试

提供非敏感的器件类别、测试目的、目标剂量、偏置需求和计划时间，我们将安排对应专业人员进行初步评估。