半导体辐射效应测试与验证平台

从器件到系统,验证累积电离效应下的可靠性

面向晶圆、芯片、功率器件及电子模块,提供X射线总电离剂量测试带偏置辐照参数监测数据分析工程报告

CRO委托测试优先 · 工作时间4小时内响应 · 敏感项目信息先去敏

AccuRad TID-X半导体X射线总电离剂量测试系统概念视觉
晶圆、裸片和功率半导体封装器件概念视觉

设备与样品概念视觉 · 最终配置以正式技术文件为准

我要委托测试从测试方案、样品准备到数据和报告交付。进入测试服务 我要采购仪器了解AccuRad TID-X系统、配置和交付支持。查看仪器产品 我要验证器件按功率器件、数字芯片、存储和传感器选择路径。选择器件应用 我要建设实验室评估射线系统、剂量学、夹具、设施和验收边界。了解建设方案

两条业务路径

先完成验证,也可以把能力建在内部

委托测试是第一业务入口;对需要长期、自主开展TID工作的团队,AccuRad提供仪器产品和实验室建设方案。

CRO测试服务

从应用问题到可交付报告

查看全部测试服务
仪器产品与实验室建设

AccuRad TID-X测试系统

X射线总电离剂量测试系统,围绕辐照、剂量学、样品偏置、参数监测、软件和安全联锁形成完整工作流。

  • 应用驱动的系统配置
  • 仪器、夹具与数据工作流协同
  • 安装、培训、验收与持续服务
实验室环境中的AccuRad TID-X半导体X射线总电离剂量测试系统概念视觉
产品概念视觉 · 型号与配置以正式技术文件为准

器件与应用

按器件问题设计验证路径

X射线TID用于研究累积电离效应,不等同于完整空间辐射环境,也不替代SEE、中子位移损伤、质子或重离子试验。

技术资源与平台动态

从测试方法到器件应用,获取可用于工程判断的信息

聚焦测试变量、器件响应、仪器系统与服务进展,帮助研发和可靠性团队快速定位相关资料与专业服务。

官网动态

技术进展、应用洞察与产品更新

查看全部动态

项目咨询

先说清楚您要验证什么

提供非敏感的器件类别、测试目标、目标剂量、偏置需求和计划时间。相应的测试、仪器或服务人员将根据需求与您联系。

  1. 选择测试、仪器或实验室建设需求
  2. 提交去敏后的项目概况和联系方式
  3. 响应工作时间4小时内由专业人员联系

请勿通过公开表单传输涉密型号、任务名称、客户受控文件或出口管制资料;敏感项目将转入安全沟通流程。

测试预约

提交初步需求

约3分钟 · 电话或邮箱至少填写一项

内容持续更新测试方法、器件应用、产品信息与平台动态
边界清晰能力、标准参考和项目结论分别说明
专业响应按测试、仪器或服务需求安排专业人员联系
预约测试工作时间4小时内响应